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材料測(cè)試平臺(tái)

功能:結(jié)構(gòu)分析
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儀器型號(hào):5500 AFM(SPM)
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發(fā)布人:管理員
詳情 details

儀器掃描精度,X、Y軸為0.2 nm,Z軸為0.2 nm,掃描范圍最大為100 μm*100 μm,Z軸最大測(cè)量高度為8 μm。


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